Aparelhos eletrônicos e sensores para medição de espessura de camada; aparelhos eletrônicos para determinar a condutividade elétrica; sensores de temperatura, sondas de temperatura; instrumentos e sensores para determinação de espessura de camada pelo processo eletromagnético, de fluorescência de raios x, coulométrico, de indução magnética, de retrodispersão de radiação beta, de corrente de foucault, magnético e de microrresistência; instrumentos para análise de material; instrumentos para análise de material por meio de fluorescência de raios x; instrumentos para determinação de microdureza; aparelhos para teste de materiais; aparelhos para teste de porosidade; aparelhos para teste de adensamento de camadas anodizadas sobre alumínio; aparelhos para teste de condutividade elétrica de metais não ferrosos; aparelhos para determinação de teor de ferrita; software de computador em conexão com os aparelhos e instrumentos acima, também em conexão com o comando dos aparelhos, a avaliação dos dados, a avaliação estatística e bancos de dados.;